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            LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組 信號分析儀

            LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組 信號分析儀

            更新時間:2024-03-28

            產品型號:

            產品報價:

            產品特點:LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組專門為近場測試設計的探頭,電磁兼容工程師*的基本工具,用于在產品開發期間探測PCB的電磁場情況

            LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組 信號分析儀的詳細資料:

            LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組包含4個無源磁場探頭和1無源電場探頭,所有探頭的頻率范圍為30MHz到6GHz,用于在研發階段測量磁場和電場。由于在探頭內部配置了阻抗匹配器,該探頭組與其他探頭(如RF型探頭)相比,在低頻區較不敏感。 使用XF 1系列的探頭,可以逐步辨識電子模塊中的干擾磁場源。例如,首先用XF-R 400-1型探頭檢測電子模塊總體發射出的干擾場,然后再用高分辨率探頭更準確地識別干擾源。電場探頭用于檢測電子模塊表面的干擾電場。 通過相應地操作近場探頭,能夠測量出電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便,并采用外皮電流衰減。磁場探頭采用電屏蔽設計。這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場探頭的內部安裝有終端電阻

            LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組產品內容:

            1xXF-B 3-1, 磁場探頭(30MHz-6Hz)

            1xXF-E 10, 電場探頭(30MHz-6GHz)

            1xXF-R 3-1, 磁場探頭(30MHz-6GHz)

            1xXF-R 400-1, 磁場探頭(30MHz-6Hz)

            1xXF-U 2.5-1, 磁場探頭(30MHz-6GHz)

            1xSMA-SMA 1 m, SMA-SMA 測量電纜

            1xCase 5


            LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組產品簡介

            XF-B 3-1磁場探頭(30MHz-6Hz)

            XF-B 3-1型磁場探頭的測量線圈相對垂直于探頭柄。當探頭豎直放置到電路板上時,其測量線圈直接平放在電路板的表面上。由此就能夠測量到印刷電路板表面上很難達到的一些位置,如開關調節器的大元件之間的位置。

            XF-E 10電場探頭(30MHz-6GHz)

            XF-E 10型電場探頭底面的電極僅有約0.2mm寬,用于定位小的電場,例如0.1mm寬的導線、高針數集成電路的單個引腳等發射的電場。測試時將該電場探頭放置在受測物體上。

            XF-R 3-1磁場探頭(30MHz-6GHz)

            XF-R 3-1型近場探頭: 用于高分辨率直接檢測組件上,譬如IC的引腳或外殼、布線、旁路電容器和電磁兼容性(EMC)元件等區域的射頻磁場。

            XF-R 400-1磁場探頭(30MHz-6Hz)

            XF-R 400-1磁場探頭 因較大的直徑(25mm)而擁有很高的靈敏度,允許在10cm以內的距離測量模塊和設備。

            XF-U 2.5-1磁場探頭(30MHz-6GHz)

            XF-U 2.5-1型磁場探頭是一個近場探頭,用于選擇性測量導線、SMD組件和IC引腳中的高頻電流。這個探頭有一個大約0.5mm寬的磁場敏感缺口,測量時將這個缺口放在布線、IC或者電容器的連接點上。

             

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