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            LANGER EMV-Technik SX近場探頭組 信號分析儀

            LANGER EMV-Technik SX近場探頭組 信號分析儀

            更新時間:2024-03-28

            產品型號:

            產品報價:

            產品特點:LANGER EMV-Technik SX近場探頭組專門為近場測試設計的探頭,電磁兼容工程師*的基本工具,用于在產品開發期間探測PCB的電磁場情況

            LANGER EMV-Technik SX近場探頭組 信號分析儀的詳細資料:

            LANGER EMV-Technik SX近場探頭組包含2個無源近場探頭,用于在研發階段以高時鐘頻率測量電子模塊上的電場和磁場,頻率范圍為1GHz到10GHz。SX探頭組的探頭可以緊貼電子模塊進行測量,比如貼近單個集成電路引腳、導線、元件及其連接點,從而定位干擾信號源。通過相應地操作近場探頭,能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便,并具備外皮電流衰減和電屏蔽。 這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內部有一個終端電阻。

            LANGER EMV-Technik SX近場探頭組產品內容:

            1xSX-E 03, 電場探頭(1GHz-10GHz)

            1xSX-R 3-1, 磁場探頭(1GHz-10GHz)

            1xSMA-SMA 1 m, SMA-SMA 測量電纜

            1xCase 4

            LANGER EMV-Technik SX近場探頭組技術參數

            頻率范圍:1 GHz - 10 GHz

            接口類型:SMA, female, jack

            重量:200 g

            LANGER EMV-Technik SX近場探頭組產品簡介:

            SX-E 03型探頭底部的電極尺寸約為4x4mm,用于檢測定位很小的電場源,例如導線、集成電路板上的單個元器件。

            SX-R 3-1型磁場探頭尺寸小,用于高分辨率測量高頻磁場,因而能夠識別出作為潛在干擾源的小元件。此外,由于探頭尺寸小,適于測量很難靠近的位置,例如集成電路引腳的周圍區域。

             

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