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            電磁干擾發射探頭組

            電磁干擾發射探頭組

            更新時間:2024-03-29

            產品型號:P603-1 / P750 set

            產品報價:

            產品特點:電磁干擾發射探頭組P603-1 / P750 set,基于IEC61967-4標準的傳導發射測量,該探頭套組用于測量IC引腳的傳導發射(采用1歐姆/150歐姆直接耦合進行測量)。

            P603-1 / P750 set電磁干擾發射探頭組的詳細資料:

            電磁干擾發射探頭組P603-1 / P750 set,它基于IEC61967-4標準,分別有一個用于測試電流和電壓的探頭。該探頭能夠接觸到測試IC的每個引腳。 該探頭套組能夠確保較高的測量重復精度和測量的可比較性。 使用朗格爾電磁兼容技術公司的ICE1集成電路IC測試環境,可以對待測集成電路進行測試。芯片掃描ChipScan-ESA 軟件系統可以控制測量過程,并對所有引腳的測量數據進行存儲以及快速系統地分析比較。

            電磁干擾發射探頭組P603-1 / P750 set產品清單:
            1xP603-1, 1Ω高頻電流表 SMA
            1xP750, 150Ω高頻電壓表
            1xCS-ESA, ESA芯片掃描軟件
            1xSMA-SMB 1 m, SMA-SMB 測量電纜
            1xP603 / P750 case, System case
            1xP603-1 / P750 m, SMA


            P603-1 1Ω高頻電流表 SMA
            P603-1探頭屬于1Ω探頭用于直接測量集成電路引腳上的高頻(RF)電流,主要用于接地引腳(Vss)和信號引腳的測量。1Ω 高頻電流計擁有針腳觸點,可以接觸到并對集成電路的每個引腳進行測量。


             
            P750 150Ω高頻電壓表
            P750 高頻電壓表帶有150Ω的耦合電路,它根據IEC 61967-4測量集成電路引腳的高頻電壓。P750探頭具備高阻抗的電容耦合輸入,因此能夠測量受測物上不同引腳的射頻電壓。


            CS-ESA  ESA芯片掃描軟件
            ESA芯片掃描軟件用于遙控頻譜分析儀,存儲并記錄測量曲線。這些曲線可以任意的相互或者與校正曲線、與頻率相關的曲線和曲線常數換算。

            測試連接示意圖
             

             如果你對P603-1 / P750 set電磁干擾發射探頭組感興趣,想了解更詳細的產品信息,填寫下表直接與廠家聯系:

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